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 美国PHASE II涂层测厚仪
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  • 公 司 名:深圳市金准仪器设备有限公司
  • 联 系 人:金艳军
  • 发布日期:2010-11-8 13:47:44
  • 有 效 期:2010-11-18 13:47:44
 
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 详细信息

美国PHASE II涂层测厚仪

美国PHASE II涂层测厚仪

技术参数:
测量范围   -1000μm  
分辨率     0.1μm/0.01mils(0-99μm)或者 1mm(超过100μm) 
保证公差   一点校准后=/-1-3%n或者2μm  
最小测量面积   5mm*5mm                                                                 
最小弧面  凸面: 0.12"(3mm)凹面:1.2"(30mm)  
最小基体厚度  铁基: 20mils(0.5mm) 非铁基:2mils(50mm)  
校准   零校准/金属薄片校准  
被测物体表面最高温度   302华氏度(150华氏度)
  • 品牌:美国PHASE II
  • 单件净重:美国
  • 颜色:凸面: 0.12"(3mm)凹面:1.2"(30mm)
  • 储存期:PTG-3500

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